镍电极材料层错结构的X射线衍射分析.pdf

镍电极材料层错结构的 射线衍射分析 王超群， 王宁， 刑政良， 吕光烈， 胡广勇 （北京有色金属研究总院， 北京“““） 摘要 “ （FOODEV3,，AV’ 8FM’ 1 万方数据 产生含缺陷的平面堆积结构即层错结构缺陷的情况 相同。 长期沿用所谓衍射谱线宽化来表征微结构性能 是不确切的， 如用 （“） 的衍射谱线半高宽， （““） 的半高宽, -“, - （为衍射矢量与圆片微晶 （C2） ’ 是由 B;DCE和 BC2 溶液直接沉淀获得的纯品。 采用 FGH*/ IJK 衍射仪 （HL;M;H） ， N3和石 墨单色器， 经 FGH*/ HMN 分析软件和 4;, H*98;M 线 形拟合程序处理衍射谱线宽化数据， 并用 O’作标 样扣除仪器宽化效应， PN19QR9;0/ 函数用于线形 拟合。将所测的数据按 M,089*1 方法处理用 （’） 、 （.） 式计算层错率。 E结果与讨论 “层错率的测算实例 表 （C2） ’HM LW“’“U （） O2I （’ “） L （’ “） 8 （ ’“） U X “ 8’ “ -. 3 -“ ““V’’- （C2） ’的 F射线衍射数据 （经线形拟合后的数据） 。 按 4,089*1 的处理方法， 由表列数据判定谱线 宽化属罗仑兹型， 因此仪器宽度可直接扣除即8“ L40 6， 然后用谢乐公式计算 ./2。 由 （“）及 （“） 的晶面法向厚度尺寸 （“）及 （“） ， 确 定 * “ ’E. 3 ; 2 （A） ,BC 谱中出现的新线条。在氢氧化镍中 钴是以三价形式存在， 为了保持电荷平衡就需要等 量的质子空穴存在， 因此可以预期 和层错的强 互作用， 将导致掺 氢氧化镍具有很高的电化学 活性。 从微晶结构的观点， G2 （A） , 粉末由许多带 微孔的微晶组成， OPQ 证实这一点。 〔〕而 射线衍 射线的半高宽和峰强度最能表征G2 （A） , 粉末 颗粒的微结构特征。例如反映层状结构厚度方向的 （ G8.R B.FF68 . 3/*5912 .R.“9/ -44/1“/3B ,0/ ;P9/4P1/ “9 Y;1*4“59 744/19 5; 358/ “;;1*4“59 .“9/3 9 “4 “3 *.53/.2 1/.4/ 45 40/ 8“*15341P*4P1/ *01*4/1 “9 40/ 714“*./3B3/ 59 40/ O05./ 744/193 Y;1*4“59 9.23“3， 40/ 1/.4“5930“7 -/4O//9 40/ 71/3/9*/ 5; 3P*0 7/*P.“1“42 “9 Y;1*4“59 744/193 9 40/ 34*R“96 ;P.43 03 -//9 /34-.“30/， 9 77.“/ 45 /34“84/ 40/ 85P94 5; /;/*43B ,0/ 34*R“96 ;P.43 “9 40/ /./*415/ 84/1“.3 1/3P.4 “9 40/ 655 /./*415*0/8“*. -/0Z“51B ,0/ .“9/ -15/9“96 5; Y;1*4“59 “3 9 “8P.43； Y;1*4“59 FC 有色金属第 GE 卷 万方数据