国立中山大学机械与机电所博士班.doc

國立中山大學機械與機電所博士班 發表論文題目 （ 中文 ）全像干涉術運用直接灰階法對奈米級尺寸變形量量測 （ 英文 ）Nano-scale Measurement using the Direct Gray-level by Holographic Interferometry 會議報告 一、參加會議經過 本人於當地時間2003年6月2日向會議中心註冊，並於當日起參加會議及參觀會議所舉辦的各國廠商的展示會，於同日下午進行本人參與此次會議的論文宣讀發表，最後在6日凌晨搭機返國。 二、與會心得 此次會議論文的宣讀發表，除了吸收了許多的經驗外，也增加自己的國際觀。無論是事前的準備工作或是論文全文寫作及宣讀論文的練習，都是相當繁瑣的工作，也因此建立自己了許多的寶貴經驗，期能為將來在研究的工作奠定基礎。 因為是第一次於國外宣讀發表，因此在發表的過程相當的緊張，發表完畢後對於問題雖然可回覆，但仍有許多需要改進的地方，但經過此次的訓練，相信往後在國際會議的發表應當有更好的表現。 因為此次參與的會議是大型的國際會議，所以會中無論是學術研究單位或公司廠商，均派遣許多菁英發表其研究成果，展示出許多最新及很好的研究成果，使我吸收到許多的新知識，對自己往後的研究幫助極大。 三、建議 建議學校可積極補助碩博士班學生參與國際大型會議，因出國發表論文對於學校學術聲望的提升應有絕對的影響，另學校也應多鼓勵願意積極研究的教授參與，期待學校將來能成為國際級的研究型大學。 四、攜回資料名稱及內容 會議論文全集的光碟片，會議議程簡冊，與會論文摘要，相關儀器廠商型錄及近期相關國際會議的邀稿資訊。 五、其它 再次感謝工學院的補助及指導老師錢志回教授的大力支持，才讓本人此次參與的研討會能順利成行，謝謝