JGT235-2014 建筑反射隔热涂料.doc
ICS 87.040 G 51 中华人民共和国建筑工业行业标准 JG/T 2352014 代替JG/T 2352008 建筑反射隔热涂料 Architectural reflective thermal insulation coating 2014-03-01实施 2 0 1 4 - 0 1 - 0 7 发 布 中华人民共和国住房和城乡建设部 发 布 JG/T 2352014 前 言 本标准按照GB/T 1.12009 给出的规则起草。 本标准代替JG/T 2352008建筑反射隔热涂料。 本标准是对JG/T 2352008建筑反射隔热涂料的修订,与JG/T 2352008相比主要技术变化 如下 修改了产品的分类,按照明度的高低,对建筑反射隔热涂料进行划分; 删除了标记; 增加了近红外反射比项目; 增加了污染后太阳光反射比变化率和人工气候老化后太阳光反射比变化率项目; 删除了隔热温差和隔热温差衰减项目; 增加了太阳光反射比的测定方法; 修改了半球发射率的测定方法; --删除了附录 A “建筑反射隔热涂料热工计算的边界条件”。 本标准由住房和城乡建设部标准定额研究所提出。 本标准由住房和城乡建设部建筑制品与构配件标准化技术委员会归口。 本标准负责起草单位深圳市嘉达高科产业发展有限公司、中国建材检验认证集团股份有限公司。 本标准参加起草单位上海广毅涂料有限公司、阿克苏诺贝尔太古漆油上海有限公司、广东华润 涂料有限公司、三棵树涂料股份有限公司、四川嘉宝莉涂料有限公司、廊坊立邦涂料有限公司、上海羽唐 实业有限公司、江苏群宝涂料有限公司、北京讯通万捷信息技术有限公司、海南红杉科创实业有限公司、 浙江时进节能环保涂料有限公司、浙江好途程新型建材有限公司、海虹老人涂料中国有限公司、深圳 市华锦威进出口有限公司、福建立恒涂料有限公司、上海市涂料研究所、大金氟涂料上海有限公司、上 海建科检验有限公司、湖南富亿帕杰建筑节能涂料有限公司、莱恩创科北京科技有限公司、深圳广田 高科新材料有限公司、福禄苏州新型材料有限公司、国家建筑材料质量监督检验中心。 本标准主要起草人熊永强、杨文颐、关有俊、乔亚玲、王巧兰、孙顺杰、徐耀标、王桦、熊荣、王东南、 程俊、王静、李羽烟、徐建凤、郭万平、王忠、吕博、徐意、钟瑞峰、杨芳、陈亚寿、张卫群、安邦、胡晓珍、 刘懿锋、赵志伟、蔡颖、夏晶。 I JG/T 2352014 建筑反射隔热涂料 1 范围 本标准规定了建筑反射隔热涂料的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装和 贮存。 本标准适用于工业与民用建筑屋面和外墙用隔热涂料。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本包括所有的修改单适用于本文件。 GB/T 1865 色漆和清漆 人工气候老化和人工辐射曝露 滤过的氙弧辐射 GB/T 31812008 漆膜颜色标准 GB/T 3186 色漆、清漆和色漆与清漆用原材料 取样 GB/T 3880.1 一般工业用铝及铝合金板、带材 第1部分一般要求 GB/T81702008 数值修约规则与极限数值的表示和判定 GB/T 9271 色漆和清漆 标准试板 GB/T 9278 涂料试样状态调节和试验的温湿度 GB/T 9750 涂料产品包装标志 GB/T 9755 合成树脂乳液外墙涂料 GB/T 9757 溶剂型外墙涂料 GB/T 97802013 建筑涂料涂层耐沾污性试验方法 GB/T 11186.2 涂膜颜色的测量方法 第2部分颜色测量 GB/T 13491 涂料产品包装通则 GB/T 16422.31997 塑料实验室光源暴露试验方法 第3部分荧光紫外灯 HG/T 3792 交联型氟树脂涂料 HG/T 4104 建筑用水性氟涂料 JC/T 864 聚合物乳液建筑防水涂料 JG/T 172 弹性建筑涂料 JG/T 375 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 建筑反射隔热涂料 architectural reflective thermal insulation coating 以合成树脂为基料,与功能性颜填料及助剂等配制而成,施涂于建筑物外表面,具有较高太阳光反 射比、近红外反射比和半球发射率的涂料。 1 JG/T 2352014 3.2 明度 lightness 表示物体表面颜色明亮程度的视知觉特性值,以绝对白色和绝对黑色为基准给予分度,以L 表示 颜色的三属性之一。 [GB/T 3181-2008,定义3.14] 3.3 太阳光反射比 total solar reflectance 在300 nm~2500 nm 可见光和近红外波段反射与同波段入射的太阳辐射通量的比值。 3.4 近红外反射比 near infrared reflectance 在780 nm~2500 nm近红外波段反射与同波段入射的太阳辐射通量的比值。 3.5 半球发射率 hemispherical emittance 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体黑体的辐射出射度的比值。 4 分类 按涂层明度值的高低分为 a 低明度反射隔热涂料L≤40; b 中明度反射隔热涂料40L80; c 高明度反射隔热涂料L≥80。 5 要求 5.1 产品的反射隔热性能应符合表1的规定。 表 1 反射隔热性能 序 号 项 目 指 标 低明度 中明度 高明度 1 太阳光反射比 ≥ 0.25 0.40 0.65 2 近红外反射比 ≥ 0.40 L 值/100 0.80 3 半球发射率 ≥ 0.85 4 污染后太阳光反射比变化率 ≤ 一 15 20 5 人工气候老化后太阳光反射比变化率 ≤ 5 该项仅限于三刺激值中的Yr≥31.26L≥62.7的产品 5.2 金属屋面使用时,除应符合表1的要求外,还应符合JG/T 375的规定;其他屋面使用时,还应符合 JC/T 864的规定。 5.3 外墙使用时,除应符合表1的要求外,还应符合 GB/T 9755 、GB/T 9757 、JG/T 172 、HG/T 3792 或 HG/T 4104 等相应产品标准最高等级要求的规定。 2 JG/T 2352014 6 试验方法 6.1 取样 产品应按GB/T 3186的规定进行取样。取样量应根据检验需要确定。 6.2 试验环境 试板状态调节和试验温湿度应符合GB/T 9278的规定。 6.3 试板制备 6.3.1 样品准备 产品未明示稀释比例时,应搅拌均匀后制板。有明示稀释比例时,应按明示稀释比例加水或溶剂搅 拌均匀后制板。当明示稀释比例为某一范围时,应取其中间值。 6.3.2 基材 试验基材应符合下列要求 a 试验基材应采用铝合金板; b 铝合金板应符合 GB/T 3880.1的要求,表面不应有阳极氧化层或着色层; c 铝合金板的表面处理应按照GB/T 9271的规定进行。 6.3.3 试板要求 表1的各项检验项目所采用的基材均应符合6.3.2的要求,试板数量各3块,试板尺寸应为 100 mm80 mm0.8 mm~1.2 mm。 6.3.4 试板制备 将按6.3.1准备的样品刮涂或喷涂在铝合金板表面,应保证涂膜表面平整,无明显气泡、裂纹等缺 陷。溶剂型产品最终干膜厚度不应低于0.10 mm, 水性产品不应低于0.15 mm。试板在6.2规定的条 件下养护168h。 6.4 太阳光反射比和近红外反射比 L值的测定应按GB/T 11186.2的规定进行;太阳光反射比和近红外反射比的测定应按附录 A 或 附录B 的规定进行,仲裁检验时按附录A 的规定进行。 6.5 半球发射率 按附录C 的规定进行。 6.6 污染后太阳光反射比变化率 按6.4的规定测定初始太阳光反射比,然后按GB/T 97802013中 A 法的规定进行5次污染处 理,再按6.4的规定测定污染后太阳光反射比。对于需要紫外光照射的涂料,应对养护到期的试板在污 染处理前先进行4h 紫外光照射。紫外光照射应按GB/T 16422.31997的规定进行,采用暴露方式 1,光源采用UV-A340 型灯管。 污染后太阳光反射比变化率按式1计算 3 JG/T 2352014 4 式中 1 ci污染后太阳光反射比变化率,; Po初始太阳光反射比; P₁污染后太阳光反射比。 结果取3块试板的算术平均值,精确至1。 6.7 人工气候老化后太阳光反射比变化率 按6.4的规定测定初始太阳光反射比,然后按照GB/T 1865的规定进行人工气候老化试验,老化 时间符合5.2的要求或5.3所列相应标准规定的最高等级要求。再按6.4的规定测定老化后太阳光反 射比。 人工气候老化后太阳光反射比变化率按式2计算 式中 2 C₂人工气候老化后太阳光反射比变化率,; Po---- 初始太阳光反射比; Pa人工气候老化后太阳光反射比。 结果取3块试板的算术平均值,精确至1。 7 检验规则 7.1 检验分类 7.1.1 出厂检验 出厂检验项目为5.2或5.3所列相应标准规定的出厂检验项目。 7.1.2 型式检验 型式检验项目包括5.1规定的全部项目以及5.2或5.3所列相应标准规定的全部项目。具备下列 情况之一时,应进行型式检验 a 在正常生产情况下,人工气候老化后太阳光反射比变化率项目两年一次,其他项目一年一次; b 新产品或者产品转厂生产的试制定型鉴定时; c 产品主要原材料及用量或生产工艺有重大变更,可能影响产品质量时; d 产品停产半年后,恢复生产时。 7.2 组批和抽样 以 5t 为一批,不足5t 也作为一批。按GB/T 3186的规定进行抽样,抽样量根据检验需要而定。 7.3 检验结果的判定 7.3.1 单项判定 单项检验结果的判定应按GB/T 81702008修约值比较法进行。 JG/T 2352014 7.3.2 综合判定 检验结果全部符合第5章的要求时,判该批产品合格。若有一项不符合,允许从该批产品中抽取双 倍样品对不合格项进行复验,复验结果符合标准要求时判定该批产品合格,否则判定该批产品不合格。 8 标志、包装、运输和贮存 8.1 标志 按 GB/T 9750的规定进行。如需稀释的产品,应明确稀释剂和稀释比例。 8.2 包装 按 GB/T 13491的规定进行。 8.3 运输 产品在运输时,应防止雨淋、曝晒、冰冻,并且应符合运输部门的有关规定。 8.4 贮存 产品贮存时应保证通风、干燥,防止日光直接照射。水性产品冬季贮存时应采取适当的防冻措施。 溶剂型产品应远离热源和火源。 5 JG/T 2352014 附 录 A 规范性附录 太阳光反射比和近红外反射比的测定相对光谱法 A.1 原理 采用带积分球的紫外、可见光、近红外分光光度计或光谱仪精确测量材料不同波长的反射比。根据 太阳光在热射线波长范围内的相对能量分布,通过加权平均的方法计算材料在一定波长范围内的太阳 光反射比和近红外反射比。 A.2 试验装置 A.2.1 分光光度计或光谱仪 波长范围应在300 nm~2500 nm 或以上,最小波长间隔应为5nm, 波长精度不应低于1.6 nm, 光度测量准确度应为1。 A.2.2 积分球 内径不应小于60 mm, 内壁应为高反射材料。 A.2.3 标准白板 压制的硫酸钡或聚四氟乙烯板,用于基线校准。 A.3 试板制备 按6.3的规定进行。 A.4 试验过程 A.4.1 开机预热至稳定。 A.4.2 设置仪器参数,使用仪器配备的标准白板进行基线校准。 A.4.3 移开白板,将试板紧贴积分球放置于白板所在的位置,关闭仪器样品仓盖,然后进行测试。 A.5 计 算 A.5.1 太阳光反射比应按式A.1 计算 A.1 式中 P 试板的太阳光反射比; 6 JG/T 2352014 p 。λ 标准白板的光谱反射比; pλ 试板的光谱反射比; S. 太阳辐射相对光谱分布,见表A.1; △λ 波长间隔,单位为纳米nm。 表 A.1 太阳辐射的标准相对光谱分布 λ nm S.△ λ nm S.△λ λ nm S.△ 300 0.000000 520 0.015357 1000 0.036097 305 0.000057 530 0.015867 1050 0.034110 310 0.000236 540 0.015827 1100 0.018861 315 0.000554 550 0.015844 1150 0.013228 320 0.000916 560 0.015590 1200 0.022551 325 0.001309 570 0.015256 1250 0.023376 330 0.001914 580 0.014745 1300 0.017756 335 0.002018 590 0.014330 1350 0.003743 340 0.002189 600 0.014663 1400 0.000741 345 0.002260 610 0.015030 1450 0.003792 350 0.002445 620 0.014859 1500 0.009693 355 0.002555 630 0.014622 1550 0.013693 360 0.002683 640 0.014526 1600 0.012203 365 0.003020 650 0.014445 1650 0.010615 370 0.003359 660 0.014313 1700 0.007256 375 0.003509 670 0.014023 1750 0.007183 380 0.003600 680 0.012838 1800 0.002157 385 0.003529 690 0.011788 1850 0.000398 390 0.003551 700 0.012453 1900 0.000082 395 0.004294 710 0.012798 1950 0.001087 400 0.007812 720 0.010589 2000 0.003024 410 0.011638 730 0.011233 2050 0.003988 420 0.011877 740 0.012175 2100 0.004229 430 0.011347 750 0.012181 2150 0.004142 440 0.013246 760 0.009515 2200 0.003690 450 0.015343 770 0.010479 2250 0.003592 460 0.016166 780 0.011381 2300 0.003436 470 0.016178 790 0.011262 2350 0.003163 480 0.016402 800 0.028718 2400 0.002233 490 0.015794 850 0.048240 2450 0.001202 500 0.015801 900 0.040297 2500 0.000475 510 0.015973 950 0.021384 A.5.2 近红外反射比应按式A.2 计算 7 式中 A.2 JG/T 2352014 PNR 试板的近红外反射比; p 。λ标准白板的光谱反射比; pλ 试板的光谱反射比; S. 太阳辐射相对光谱分布,见表A.2; △λ 波长间隔,单位为纳米nm。 表 A.2 近红外太阳辐射的标准相对光谱分布 λ nm S.△λ λ nm S.△ λ nm S.△λ 780 0.05190 1360 0.00117 1940 0.00051 800 0.04962 1380 0.00054 1960 0.00097 820 0.03743 1400 0.00033 1980 0.00354 840 0.04404 1420 0.00138 2000 0.00197 860 0.04491 1440 0.00243 2020 0.00290 880 0.04282 1460 0.00454 2040 0.00427 900 0.03604 1480 0.00537 2060 0.00307 920 0.03115 1500 0.00884 2080 0.00334 940 0.01254 1520 0.01205 2100 0,00409 960 0.02129 1540 0.01258 2120 0.00396 980 0.02966 1560 0.01248 2140 0.00382 1000 0.03390 1580 0.01124 2160 0.00365 1020 0.03279 1600 0.01097 2180 0.00346 1040 0.03168 1620 0.01085 2200 0.00328 1060 0.03006 1640 0.01094 2220 0.00326 1080 0.02581 1660 0.01049 2240 0.00325 1100 0.01893 1680 0.01004 2260 0.00323 1120 0.00504 1700 0.00932 2280 0.00318 1140 0.00725 1720 0.00859 2300 0.00310 1160 0.01516 1740 0.00787 2320 0.00301 1180 0.02110 1760 0.00571 2340 0.00293 1200 0.01943 1780 0.00354 2360 0.00285 1220 0.02093 1800 0.00138 2380 0.00243 1240 0.02177 1820 0.00095 2400 0.00201 1260 0.02064 1840 0.00052 2420 0.00160 1280 0.01951 1860 0.00009 2440 0.00118 1300 0.01646 1880 0.00008 2460 0.00094 1320 0.01148 1900 0.00007 2480 0.00089 1340 0.00482 1920 0.00006 2500 0.00075 A.6 结果处理 取3块试板的算术平均值作为最终结果,结果应精确至0.01。 8 JG/T 2352014 附 录 B 规范性附录 太阳光反射比和近红外反射比的测定辐射积分法 B.1 原理 采用多个不同波段的探测器测量入射角为20的辐射反射。通过探测器配备的滤光装置,获得与 太阳光光谱特定波段一致的电子感应,经读数模块处理后得出太阳光反射比和近红外反射比。 B.2 试验装置 B.2.1 便携式反射比测定仪 B.2.1.1 测量头 应由钨卤素灯、过滤器和多个不同波段的探测器组成,钨卤素灯作为辐射源用于照射,过滤器用于 调整辐射反射使之与特定波段相适应,探测器用于感应不同波段的辐射反射。 B.2.1.2 读数模块 读数模块与测量头相连,用于处理测量头的信号、反射比数字输出信号以及显示输人参数或校准信 息。读数模块数显分辨率应为0.001。 B.2.2 校准装置 包括黑腔体和标准板,黑腔体用于仪器调零,标准板用于仪器校准。 B.3 试板制备 按6.3的规定进行。 B.4 试验过程 B.4.1 开启电源,预热至稳定。 B.4.2 用反射比为零的黑腔体调零,用已知反射比的标准板校准。每隔30 min 重复调零和校准。 B.4.3 将试板的涂层面紧贴测量头端口,避免光线泄漏。在测量头指示灯闪烁的整个周期内,保证测 量头不动。当显示值稳定时,即可读数。 B.5 结果处理 取3块试板测量结果的算术平均值作为最终结果,结果应精确至0.01。 9 JG/T 2352014 附 录 C 规范性附录 半球发射率的测定辐射计法 C.1 原理 加热探测器内的热电堆,使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系,通过 比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小,得出试板的发射率。 C.2 试验装置 C.2.1 便携式辐射计 C.2.1.1 差热电堆式辐射能探测器 由可控加热器、高发射率探头元件和低发射率探头元件构成,可控加热器应能保证探测器温度高于 试板温度或标准板温度。发射率探头元件应能产生与温差成比例关系的输出电压。探测器重复性应为 0.01。 C.2.1.2 读数模块 读数模块应与差热电堆式辐射能探测器相连,用于处理热电堆输出信号。读数模块数显分辨率应 为0.01. C.2.1.3 热沉 热沉用于放置试板和标准板,热沉应导热良好,能使试板和标准板温度稳定一致。 C.2.2 标准板 由低发射率抛光不锈钢标准板和高发射率黑色标准板组成。 C.3 试板制备 按6.3的规定进行。 C.4 试验过程 C.4.1 开启电源,仪器预热至稳定。 C.4.2 将高、低发射率标准板置于热沉上,探测器分别放在高、低发射率标准板上90s, 通过微调使读 数与标准板的标示值一致,再重复一遍此步骤。 C.4.3 将试板置于热沉上90 s, 然后将探测器放在试板上直至读数稳定,即为测量结果。 10 JG/T 2352014 C.5 结果处理 取3块试板测量结果的算术平均值作为最终结果,结果应精确至0.01。